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ATX110里氏硬度計(jì)
日期：2025-04-30 16:47
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摘要： ATX110里氏硬度計(jì)是一種新型的便攜式硬度測(cè)試儀器，主要適用于測(cè)試金屬材料的硬度，具有測(cè)試精度高、體積小、操作容易、攜帶方便，測(cè)量范圍寬的特點(diǎn)。
ATX110里氏硬度計(jì)是根據(jù)里氏（Dietmar Leeb）硬度測(cè)試原理設(shè)計(jì)而成，測(cè)出里氏硬度值經(jīng)過(guò)程序自動(dòng)轉(zhuǎn)換成布氏，洛氏，維氏，肖氏等硬度值，還可以配置各種測(cè)試配件，來(lái)滿足于各種測(cè)試條件和環(huán)境。主要適用于金屬材料的快速硬度測(cè)試，特別適宜對(duì)大型零部件及不可拆卸部件的現(xiàn)場(chǎng)硬度測(cè)試。
ATX110里氏硬度計(jì)概述
ATX110里氏硬度計(jì)是一種新型的便攜式硬度測(cè)試儀器，主要適用于測(cè)試金屬材料的硬度，具有測(cè)試精度高、體積小、操作容易、攜帶方便，測(cè)量范圍寬的特點(diǎn)。
ATX110里氏硬度計(jì)是根據(jù)里氏（Dietmar Leeb）硬度測(cè)試原理設(shè)計(jì)而成，測(cè)出里氏硬度值經(jīng)過(guò)程序自動(dòng)轉(zhuǎn)換成布氏，洛氏，維氏，肖氏等硬度值，還可以配置各種測(cè)試配件，來(lái)滿足于各種測(cè)試條件和環(huán)境。主要適用于金屬材料的快速硬度測(cè)試，特別適宜對(duì)大型零部件及不可拆卸部件的現(xiàn)場(chǎng)硬度測(cè)試。
ATX110里氏硬度計(jì)功能特點(diǎn)
- 可測(cè)試六種硬度制（HV、HRC、HRB、HB、HV、HS）
- 一機(jī)可同時(shí)配多種異型沖擊裝置（D、DC、D+15、C、DL、G）
- 自動(dòng)識(shí)別沖擊裝置類型（D、DC、D+15、C、DL、G）
- 可接PC機(jī)實(shí)現(xiàn)測(cè)量數(shù)據(jù)的歸檔管理與分析
- 可能過(guò)菜單設(shè)置材質(zhì)，無(wú)需設(shè)置即可自動(dòng)識(shí)別沖擊方向
- 可設(shè)置硬度值上下偏差自動(dòng)聲音報(bào)警
- 屏幕具有背光，可調(diào)節(jié)對(duì)比度
- 可存儲(chǔ)*大600組（沖擊次數(shù)32～1）硬度測(cè)量數(shù)據(jù)
- 增加了測(cè)試材料（不銹鋼）及擴(kuò)大了測(cè)試范圍
- 自動(dòng)檢測(cè)電池電壓，當(dāng)工作電壓低于額定值時(shí)，自動(dòng)報(bào)警
- 采用2節(jié)AA（五號(hào)）電池，可連續(xù)工作不少于150小時(shí)
- 全密封金屬外殼，小巧、便攜、可靠性高
- 全中文菜單、背光顯示、方便操作
- 具有示值軟件校準(zhǔn)功能
ATX110里氏硬度計(jì)技術(shù)參數(shù)
- 硬度制：里氏、布氏、洛氏B、洛氏C、維氏、肖氏
- 測(cè)量范圍：HLD（170～960）HLD
- 測(cè)量方向：360°
- 相對(duì)誤差±0.8%、示值重復(fù)性誤差0.8（HLD=800）（示值誤差和重復(fù)性表）
- 標(biāo)準(zhǔn)沖擊裝置：D型沖擊裝置（測(cè)試范圍表）
- 測(cè)量工件的曲率半徑：Rmin=50mm（用異型支承環(huán)Rmin=10mm）
- 測(cè)量工件的*大硬度值：940HV（D/DC/DL/D+15/C沖擊裝置）
- 可選沖擊裝置：D/C/DC/D+15/DL/G
- 自動(dòng)檢測(cè)電壓：當(dāng)工作電壓低于額定值時(shí)，自動(dòng)報(bào)警
- 顯示：128×64圖形點(diǎn)陣液晶
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：600組（沖擊次數(shù)32～1）
- 上下限設(shè)置范圍：同測(cè)量范圍
- 工作電壓：2×1.5V普通堿性電池
- 持續(xù)工作時(shí)間：約100h（不開(kāi)背光時(shí)）
- 通訊接口標(biāo)準(zhǔn)：RS232
ATX110里氏硬度計(jì)基本配置
- ATX110里氏硬度計(jì)主機(jī)（含沖擊裝置）
- 隨機(jī)里氏硬度塊（HLD值）
- 2×1.5V電池
- 小支承環(huán)
- 尼龍刷
- 使用說(shuō)明書
- 合格證書
- 密碼包裝箱
